hi,
hab extra mal nachgelesen.....
Halbwertszeit
Flash-Zellen leben nicht besonders lang. Nach einer gewissen Anzahl von Löschzyklen treten Schäden in den Oxidschichten zwischen Control-, Floating Gate und Substrat auf (Degradation). Diese führen dazu, dass die Schicht nicht mehr sauber isoliert und so die Ladungsträger vom Floating Gate abfließen können. Die Hersteller sichern nur 10 000 (NOR) oder 100 000 Löschzyklen (NAND) zu, geben aber an, dass ihre Zellen im Schnitt das Zehnfache schaffen. Die Blockgröße bei NAND-Flash ist deutlich kleiner als bei NOR, sodass der einzelne Block seltener gelöscht werden muss. Dennoch bleibt Bedarf für ein sogenanntes Defektmanagement: Das muss defekte Blöcke markieren und die dort gespeicherten Daten in Reserveblöcke auslagern. Zudem gilt es, die Schreibzugriffe so über alle vorhandenen Blöcke zu verteilen, dass kein einzelner Block allzu oft gelöscht und neu beschrieben wird. In der Vergangenheit gab es daher einige Anläufe für spezielle Dateisysteme. Mittlerweile bestehen die meisten Speicherkarten aus einem Controller und dem eigentlichen NAND-Flash-Speicher. Der Controller kümmert sich nicht nur um die Ansteuerung des Speichers, sondern übernimmt auch das Defektmanagement und die gleichmäßige Verteilung der Daten über die Blöcke. Jeder Block enthält dabei auch Prüfsummen, mit denen sich Bitfehler rekonstruieren lassen. Erkennt der Controller einen solchen Fehler, rekonstruiert er die verlorenen Bits aus den Prüfsummen und transferiert die Daten in einen intakten Reserveblock. Der defekte Block wird ab da nicht mehr genutzt. Das Gerät, das die Karte benutzt, bekommt davon nichts mit. Es kann oft sogar das Dateisystem frei wählen.
Zwar kann eine solche Speicherkarte mit den meisten Dateisystemen formatiert werden, die Verteilungsalgorithmen einiger Controller sind allerdings auf bestimmte Dateisysteme (meist FAT16 oder FAT32) optimiert, sodass der Einsatz eines anderen Formats kaum lohnt.
Wie effizient das Defektmanagement und die Verteilung der Daten funktioniert, zeigt ein Versuch im c't-Labor: Wir haben probiert, einen USB-Stick mit Flash-Speicher gezielt kaputt zu schreiben. Aber selbst nach 16 Millionen Schreibzugriffen auf ein und dieselbe Datei konnten wir keine Fehler feststellen.
Quelle:
CT
vg,
Christian